本設備操作簡單，放置樣品即可測量的。一步到位。
縮短檢查工程，無標準曲線，精度高，分辨率高，輕松測量樣品的**厚度。
光學方式為大冢電子**，不僅外形小巧，無論透明?粗糙還是易變形的樣品，都可以實現非接觸式的高精度測量。
產品信息
特長
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非接觸式測量不透明、粗糙，易變形的樣品
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反復性?再現性高
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無標準曲線也可知道**厚度
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測量徑很小，不受斑點的影響
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樣品位置無需調整，放進去即可。
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穩定性高，不會產生誤差，所以誰都能操作。
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光學方式原理所以**
式樣
構成圖?原理
構成圖
任何人都會測量
原理
將光分別照射樣品上下部
測量距離基準面的距離。
d=dall-(d1+d2)
比較測量方法
樣品例子和測量方法的比較
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非接觸光學膜厚儀
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接觸式膜厚儀
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X線式膜厚儀
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変位計
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樣品
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凝膠片
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○
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×
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○
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○
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不織布
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○
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×
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○
|
×
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金屬板
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○
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○
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○
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○
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樹脂
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○
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○
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○
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○
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多孔質
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○
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△
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○
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×
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陶瓷
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○
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○
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○
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×
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紙?木
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○
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○
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○
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×
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測量
條
件
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測量時間
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○ 高速
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○
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○
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○
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非接觸測量
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○ 非接觸
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×
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○
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○
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前處理
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○ 不要
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○
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×
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○
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測量案例
