日本HORIBA堀場顆粒表征/激光粒度、納米粒度及Zeta電位、顆粒追蹤分析儀

日本HORIBA堀場顆粒表征主要有激光粒度分析儀Partica LA-960V2//激光粒度分析儀Partica mini LA-350//納米顆粒追蹤分析儀ViewSizer 3000//納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2//Dynamic Image Analysis//ANALYSETTE 28 ImageSizer*//離心式粒度分析儀Partica CENTRIFUGE CN-300

激光粒度分析儀Partica LA-960V2

LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優異設計**行業方向。其直觀的軟件、特有的附件和優異的性能將科學認知推向未知世界，是LA系列儀器的突破性演變。

LY-9610 圖像單元

圖像分析測量范圍	9 - 1000 μm
像素尺寸	0.73 μm
拍照速度	≧ 4 幀/秒
功能	等效圓直徑直方分布圖；形狀參數：縱橫比*、圓度*、長度*、寬度*；等效圓直徑趨勢圖；捕獲圖像的后期分析（放大/縮小，測量尺寸）。

激光粒度分析儀Partica mini LA-350

HORIBA LA-350 激光粒度分析儀是一款性能高、價格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應用于漿料、礦物和造紙行業等多種領域?；贚A系列分析儀的先進光學設計，LA-350實現了高性能、易操作、低維護和高效益的優點。LA-350體積小巧(297 mm x 420 mm)，可以有效節省實驗室空間。除此之外，LA-350巧妙的設計、高質量的制造確保儀器操作方便、測量范圍寬 (0.1-1000 μm)和測量結果準確。

優點

• 操作靈活：通過更廣泛的尺寸范圍和靈活的軟件，輕松適應不斷變化的測量需求。
• 操作簡單：通過軟件中的方法和操作序列可以實現一鍵操作。
• 快速分析：快速測量和分析立即獲得測量結果。

納米顆粒追蹤分析儀ViewSizer 3000

ViewSizer 3000 使用納米顆粒追蹤分析技術 (NTA) 的*新進展來準確確定顆粒屬性！

粒徑測量范圍：10 nm- 15μm，具體范圍取決于樣品

ViewSizer 通過多激光納米顆粒追蹤分析技術 (NTA) 得到顆粒粒徑及粒徑分布。多個激光器可分析同一樣品中各種不同尺寸的顆粒，分辨率更高。

濃度測量范圍：5 x 106 - 2 x 108 顆/mL

NTA 可用于對測量體積中的顆粒進行計數。該測量方法可校正粒徑對有效測量體積的影響。

無交叉污染

樣品池可完全拆卸，拆卸后清洗更方便徹底。拆卸、清潔和重新組裝比沖洗流通池更快。此外，配備多個樣品池可樣品測量通量，也可分配給共享（核心）設施中的各個小組

納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！

• SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質、聚合物等。
• 使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數——粒徑、Zeta 電位和分子量
• HORIBA研發的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
• HORIBA研發的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

離心式粒度分析儀Partica CENTRIFUGE CN-300

尺寸

密度梯度溶液配制器(CY-301)

密度梯度溶液配制器可用于幫助制備line-start模式測量所需的密度梯度溶液。放好比色皿按下按鈕后可在約 3 分鐘內制備密度梯度溶液。