OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產品名稱：OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000
產品型號：FDLS-3000
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計根據固體激光和高靈敏度檢測器（冷卻型光電子倍增管），可以測量0.5nm～5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）。OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000

詳情介紹：

FDLS-3000
OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計

根據固體激光和高靈敏度檢測器（冷卻型光電子倍增管），可以測量0.5nm～5000 nm 的粒子直徑和粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）。

特長OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000

根據固體激光和高靈敏度檢測器（冷卻型光電子倍增管），可以測量0.5nm～5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）。

寬的小區空間（W150×D 150×H150mm），也可以對應高溫、高壓單元等特殊的單元格。（特別規格）

廣范圍的散射測量角度（30°～150°）

測試測量，本測量，分析，打印，數據注冊的一系列操作的自動處理。

測量項目

粒子直徑測量范圍0.5nm～5000 nm（固體激光）

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