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產品詳情
簡單介紹：
QE-2000
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000
詳情介紹：
QE-2000
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。
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OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000
特長
拘泥于高精度測量。
能夠瞬間測量**量子效率(**量子收獲率)。
可以去除再激發熒光發光。
采用積分半球單元，實現明亮的光學系統。
低迷光多通道分光檢測器可顯著減少紫外區域中的混光。
拘泥于簡單的操作。
使用專用軟件輕松操作。
試樣測量用單元的拆卸容易。
小巧。
通過使用分光器類型的激發光源可以選擇任意波長。
通過在軟件上指定激發波長的波長和步長值，可以進行自動測量。
拘泥于多功能。
適用于粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜試樣。
豐富的分析功能
使用專用軟件輕松操作。
試樣測量用單元的拆卸容易。
小巧。
通過使用分光器類型的激發光源可以選擇任意波長。
通過在軟件上指定激發波長的波長和步長值，可以進行自動測量。
拘泥于多功能。
適用于粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜試樣。
豐富的分析功能
測定項目
- 量子効率（量子収率）測定
- 勵起波長依存性測定
- 発光スペクトル測定
- PL勵起スペクトル測定
- EEM（Excitation Emission Matrix）測定
用 途
- LED、有機EL用蛍光體の量子効率（量子収率）測定
-
フィルム狀試料の透過蛍光?反射蛍光の量子効率（量子収率）測定
- リモートフォスファー用蛍光體サンプルなど - 量子ドット、蛍光プローブ、生體分野、包接化合物等の蛍光測定
- 色素増感型太陽電池の量子効率（量子収率）測定
- 錯體化合物の測定
高精度な理由
1.積分半球による理想的な光學系
QE-2000は、積分半球を搭載しています。積分半球は、積分球（全球）に比べて下記のような特長があります
- 非発光部分（ホルダーなど）を外部に出すことができるため自己吸 収を小さく抑えることが可能であり、理想的な光學系を実現できる
- ミラーにより同一ポイントの照度が約2倍となり、感度よく測定がで きる
- 試料測定用セルの脫著が容易であり、積分球內部を傷めるリスクが 少ない
2.再勵起蛍光補正機能により”真の物性値”を観測
再勵起蛍光発光を含んだ狀態では、材料そのものの物性の観測ではなく、裝置の特性を含んだ観測となり、真の物性値を求めることができません。QE-2000は、積分半球の利點を生かした再勵起蛍光補正により、簡便にそして精度の高い測定をおこなうことができます。
3.低迷光マルチチャンネル分光検出器により紫外域の迷光を低減
従來の検出器（ポリクロメータ）では、紫外領域の迷光が高く検出されたため、量子効率（量子収率）の測定に向いているとは言えませんでした。大塚電子では、迷光を除去する技術を開発し、この問題を解決しました。QE-2000に搭載しているマルチチャンネル分光検出器は當社従來品に比 べて迷光量約1/5を実現しており、紫外域においても精度の高い測定を可能としています。
仕様
オプション
- オートサンプラー
-
サンプルホルダ
①粉體測定用 SUS304製、石英カバーあり
②フィルム測定用 透過測定用サンプルホルダー
ソフトウェア
直観的にわかる、使い勝手のよい専用ソフトウェアです。試料測定用セルをセットするだけで、量子効率（量子収率）、勵起スペクトルなどを簡単に測定することができます。
產品留言
