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產品詳情
簡單介紹：
GC-1
OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器
實現真正的黑屏！
把黑色的差異數值化。
OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1
詳情介紹：
QE-2000QE-5000OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備GC-1
OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器
OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器
特長
1億對1高對比度測量(min.2×10-5 cd/m2，max.2 x 103 cd/m2)。
輔助千兆位對比度的相對標準偏差小于3%。
黑亮度調光測量。
實現3秒的高速測量。
可在方便的暗室內進行測量。
專門構建。
OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1
測量主題
顯示設備(LCD、PDP、有機EL面板等)。
測量項目
對比度測量。
簡易的輝度測量
仕 様
| サンプルサイズ | 3.5インチ以上 |
| 測定範囲 |
コントラスト：1～1億 輝度：2×10-5 ～ 2×103 cd/m2 |
| 測定時間 | 約3秒 （測定1回あたり） |
測定畫面
裝置構成
測定例
400 cd/m2 を*大値とした時の直線性確認
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