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        產品中心
        產品詳情
        • 產品名稱:OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700

        • 產品型號:FE-3700
        • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
        • 產品價格:0
        • 折扣價格:0
        • 產品文檔:
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        簡單介紹:
        FE-3700 OTSUKA大冢-膜厚測量系統 OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700
        詳情介紹:
        FE-3700
             OTSUKA大冢-膜厚測量系統

        特 長:

        可以快速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數.。為大型玻璃基板(包括下一代尺寸)和LCD、TFT和有機EL提供支持。

        OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700


        用 途
        • LCD
          ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass
        • TFT
          SiN/a-Si/Glass
        • 有機EL
          有機EL/ITO/Glass
        • PDP
          誘電體層/Glass


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