SANKO山高膜厚儀 SWT系列的探針|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產品名稱：SANKO山高膜厚儀 SWT系列的探針
產品型號： SWT系列的探針
產品廠商：SANKO山高
產品價格：0
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簡單介紹：

SANKO山高膜厚儀 SWT系列的探針 SANKO山高膜厚儀 SWT系列的探針 SANKO山高膜厚儀 SWT系列的探針

詳情介紹：

SWT系列的探針

◆	由于探頭兼容性，可以與主體自由組合地實現連接。
◆	根據測量對象連接鐵基（電磁型）或有色金屬基（渦流型）。
◆	可以根據應用和測量范圍選擇探針，例如適用于小塊的測量的高穩定性探針等。


·Fe-2.5		·Fe-10		·L型探頭

·Fe - 0.6筆		Fe-2.5 LwA		·V型探頭適配器

■探頭（另售）電磁感應式

模型	Fe - 2.5 * / Fe - 2.5 L.	鐵 - 2.5 LwA	鐵 - 0.6筆	FE-10	FE-20
測量方法	電磁感應式
測量范圍	0至2.50毫米		0至600微米	0至10毫米	0至20毫米
顯示分辨率	1μm： 0至999μm通過切換 0.1μm： 0至 400μm0.5μm： 400至500μm0.01mm ： 1.00至2.50 mm		1μm： 0至600μm通過切換 0.1μm： 0至400μm， 0.5μm：401至500μm	1μm： 0至999μm0.01mm ： 1至10 mm	1μm： 0至999μm0.01mm ： 1至5 mm 0.1 mm： 5至20 mm
測量精度（平滑面為）	0至100μm：±1μm 或指示值的±2％ 101μm至2.50 mm：±2％以內		0至100μm：±1μm 或在指示值101μm至600μm的±2％范圍內：在指示值的±2％范圍內	0至3 mm：±（5μm+指示值的3％） 3.01 mm或更大：±3％以內
探測器	1點恒壓接觸型，V切割2.5：φ15x 47 mm 2.5 L：18 x 22 x 58 mm	1點恒壓接觸式測量部分：約24×27×56 mm總長度約550至1,540 mm（伸縮式）	1點恒壓接觸式，V切口 φ5.6×92.2 mm	1點恒壓接觸式，V切口 φ20.4×47.1 mm	1點恒壓接觸型，V切口 φ35x 55 mm
選項* 2	V型探頭適配器/ - -	- -	- -	- -	- -
附件	用于標準厚板測試的零板（用于鐵）	用于標準厚板測試（用于鐵）存儲盒的零板	用于標準厚板測試的零板（用于鐵）
測量對象	在鐵·鋼等磁性金屬基底上涂覆，襯里，噴涂，電鍍（不包括電解鍍鎳）等	在鐵·鋼，襯里等磁性金屬基底上涂漆。無法到達的地方，用于涂膜厚度測量	在鐵·鋼，襯里和窄點等磁性金屬塊上涂層，用于測量小部件的涂層厚度	對于相對較厚的測量	用于重量測量

※探頭為耐熱性（約200℃）。請聯系我們了解詳情。
※2選項：V型探頭適配器（3種可選：φ5以下，φ5~10，φ10~20）

■探頭（另售）渦流型

模型	NFe - 2.0 * / NFe - 2.0 L	NFE-0.6	NFE-5	NFE-8
測量方法	渦流公式
測量范圍	0至2.00毫米	0至0.6毫米	0至5毫米	0至8毫米
顯示分辨率	1μm： 0至999μm通過切換 0.1μm： 0至 400μm0.5μm： 400至500μm0.01mm ： 1.00至2.00 mm	1μm： 0至600μm通過切換 0.1μm： 0至 400μm0.5μm： 400至500μm	1μm： 0至999μm0.01mm ： 1至5 mm	1μm： 0至999μm0.01mm ： 1至8 mm
測量精度（垂直于光滑表面測量）	0至100μm：±1μm 或±2％的指示值 101μm至2.00 mm：±2％以內	0至100μm：±1μm 或指示值的±2％ 101μm至600μm：±2％以內	0至3 mm：±（5μm+指示值的3％） 3.01 mm或更大：在指示值的±3％范圍內
探測器	1點恒壓接觸型，V切割2.0：φ15x 47 mm 2.0 L：18 x 22 x 57 mm	1點恒壓接觸式，V切割 φ13×45.5 mm	1點恒壓接觸式，V切口 φ20.4×47.7 mm	1點恒壓接觸型，V切口 φ35x 59 mm
選項* 2	V型探頭適配器/ - -	- -	- -	- -
附件	用于標準厚板測試的零板（用于有色金屬）
測量對象	絕緣涂層在非磁性金屬基底上，如鋁，銅等。
測量對象	用于相對通用的測量對象	用于薄圓棒，細管，小件等的高穩定性	對于相對較厚的測量

※探頭為耐熱性（約200℃）。請聯系我們了解詳情。
※2選項：V型探頭適配器（3種可選：φ5以下，φ5~10，φ10~20）

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