<p id="v57m1"></p>
      <pre id="v57m1"><ruby id="v57m1"></ruby></pre>
      <tr id="v57m1"></tr>

        產品中心
        產品詳情
        • 產品名稱: 超快光譜干涉型測厚儀

        • 產品型號:
        • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
        • 產品價格:0
        • 折扣價格:0
        • 產品文檔:
        你添加了1件商品 查看購物車
        簡單介紹:
        它以超高速,實時,高精度的晶片和樹脂非接觸方式測量晶片等的研磨和拋光過程。
        詳情介紹:
        特殊長度
        • 可以進行非接觸式,非破壞性的厚度測量
        • 折反射系統(可以從一側接觸進行測量)
        • 高速(*高速度5kHz)和實時評估成為可能
        • 實現高穩定性(重復精度不超過0.01%)
        • 抗粗糙性強
        • 可以應付任何距離
        • 支持多層結構(*多5層)
        • 內置NG數據排除功能
        • 可以進行距離(形狀)測量(內置傳感器隨附的選件) *

        *通過在測量范圍內的光學距離測量

         

         

        要點1:采用原創技術

        實現高波長分辨率,同時支持廣泛的膜厚度。
        大冢電子的獨特技術封裝在緊湊的機身中。

         

        要點2:高速支持


        也是工廠生產線的理想選擇,因為它可以**的間距測量運動的物體。

         

        第三點:支持各種表面條件的樣品

        約有φ20μm的微小斑點,
        可以在各種表面條件下測量樣品的厚度。

         

        Point4:與各種環境兼容

        由于可以從*遠200 mm的距離進行測量,因此
        可以根據目的和應用構建測量環境。

         

        測量項目
        • 厚度測量(5層)

         

        • 各種厚膜構件的厚度

         

         

         

        • 產品信息
        •  
        • 規格
        •  
        • 基本配置
        •  
        • 測量例

        相關信息

        相關產品

        光譜干涉晶圓測厚儀SF-3

        嵌入式膜厚監測儀

        顯微光譜儀OPTM series

        膜厚計FE-300

        光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S

        マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800
        產品留言
        標題
        聯系人
        聯系電話
        內容
        驗證碼
        點擊換一張
        注:1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
        2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

        蘇公網安備 32050502000409號

        久久久久精品国产五月四虎|亚洲精品国产专区91在线|亚洲欧洲精品专线|欧美最猛性开放|欧美日产高清欧美一区

            <p id="v57m1"></p>
            <pre id="v57m1"><ruby id="v57m1"></ruby></pre>
            <tr id="v57m1"></tr>