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產品詳情
簡單介紹：
可以基于與 NIMS 共同開發的單粒子診斷方法* 進行測量。
*
與國立材料科學研究所、弘前直人研究員和武田隆研究員聯合研究
詳情介紹：
- 一種高靈敏度系統，可以測量一個熒光粉粒子的熒光特性。
- 從1個粒子的提取到測量的系統化
- 可測量 10 μm 顆粒
- 可以進行從室溫到 600°C 的溫度相關測量
