OTSUKA大冢電子Zeta電位測量儀ELSZ-2000S|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產品名稱：OTSUKA大冢電子Zeta電位測量儀ELSZ-2000S
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

*新的高靈敏度APD實現了更高的靈敏度和更短的測量時間通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量增加了廣泛的分子量測量和分析功能支持懸浮高濃度樣品的粒度測量非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、制藥、醫藥等領域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎研究和應用研究。

詳情介紹：

規格

測量原理	粒度	動態光散射法（光子相關法）
	分子量	靜態光散射法
光學系統	粒度	零差光學系統
	分子量	零差光學系統
光源	大功率半導體激光器
探測器	高靈敏度 APD
細胞	對于粒度/分子量：方形電池
溫度	0～90℃（帶梯度功能）
電源	100V±10% 250VA
尺寸（寬高）	380 (W) x 600 (D) x 210 (H)
重量	22 公斤