產品名稱：蘇州代理 大冢電子膜厚監測儀FE-300

產品信息

• 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
• 使用反射光譜的薄膜厚度分析
• 實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時緊湊且價格低廉
• 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
• 可以通過峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優化法等進行多種薄膜厚度測量。
• 通過非線性*小二乘膜厚分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。

• 優良反射率測量
• 膜厚分析（10層）
• 光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）

• 功能膜、塑料
  透明導電膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護膜、硬涂層、防指紋， 等等。
• 半導體
  化合物半導體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍寶石等
• 表面處理
  DLC涂層、防銹劑、防霧劑等
• 光學材料
  濾光片、AR涂層等
• FPD
  LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機膜、灌封膠）等
• 其他
  

• 硬盤驅動器、磁帶、建筑材料等。

  規格

  規格

  類型	薄膜型	標準型
  測量波長范圍	300-800nm	450-780nm
  測量膜厚范圍 （SiO 2換算）	3nm-35μm	10nm-35μm
  光斑直徑	φ3mm / φ1.2mm
  樣本量	φ200 × 5 (H) mm
  測量時間	0.1-10s內
  電源	AC100V ± 10% 300VA
  尺寸、重量	280 (W) x 570 (D) x 350 (H) 毫米，24 公斤
  其他	參考板，配方創建服務

  設備配置

  光學家譜

  

   

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