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產品詳情
簡單介紹：
支持OLED用偏光板、層疊型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各種薄膜的相位差測量裝置。
實現與超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度測量。
可以“無剝離”和“無損”測量薄膜的層壓狀態。
此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，支持由于樣品重新定位而導致的錯位，從而實現簡單且高精度的測量。
詳情介紹：
規格
規格
| 模型 | 飽和度測量裝置 RETS-100nx |
| 測量項目（薄膜、光學材料） | Ritalization（波長色散）、慢相軸、Rth * 1、3D 折射率* 1等 |
| 測量項目（偏光板） | 吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透過率等。 |
| 測量項目（液晶單元） | 單元間隙、預傾角*1、扭曲角、配光角等 |
| 活化測量范圍 | 0-60,000nm |
| 重復性 | 3σ≤0.08nm（晶體波片約600nm） |
| 單元間隙測量范圍 | 0 至 600 μm（當 Δn = 0.1 時） |
| 單元間隙重復性 | 3σ ≤ 0.005 μm（當單元間隙約為 3 μm 且 Δn = 0.1 時） |
| 軸檢測重復性 | 3σ≤0.08°（晶體波片約600nm） |
| 測量波長范圍 | 400-800nm（可提供其他選擇） |
| 探測器 | 多通道光譜儀 |
| 測量直徑 | φ2mm（標準規格） |
| 光源 | 100W鹵素燈 |
| 數據處理部 | 個人電腦、顯示器 |
| 舞臺尺寸：標準 | 100mm x 100mm（固定載物臺） |
| 選項 |
?超高延遲測量 ?多層測量 ?軸角校正功能 ?自動XY臺 ?自動傾斜旋轉臺 |
* 1 需要自動傾斜旋轉平臺（可選）
■ 高精度
■ 寬測量范圍（保留范圍：0 至 60000 nm）
■ 了解延遲波長色散形狀
■ 高延遲
■ 更換樣品10次，比較有無角度校正的結果
產品信息
特殊長度
只有獨特的分光鏡才能完成的高精度測量
通過多波長測量實現高精度
<高精度的原因> -使用獨特
的高性能多通道光譜儀-
由于 可以獲得大量的透射率信息，因此可以進行高精度測量
（獲得的透射率）。約500個波長，是其他公司產品的約50倍）
超高延遲測量-超雙折射薄膜的高速高精度測量-
多層測量-可以測量各種薄膜的層壓狀態而不剝落-
軸向角校正功能-即使樣品安裝未對準，也可輕松且可重復地測量-
【樣品：相位差膜R85】
簡單的軟件——測量時間和處理時間大大減少。大大提高了可操作性-
光學系統
特殊長度
固定載物臺 [選項：軸向角度校正功能]
自動傾斜旋轉平臺 [選項]
自動 XY 載物臺 [選項]
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