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        產品詳情
        • 產品名稱:OTSUKA大塚電子 zeta 電位儀

        • 產品型號:
        • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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        簡單介紹:
        除了常規的 zeta 電位和粒度測量外,它是一種可以測量分子量的設備,可通過稀溶液至濃溶液進行測量。 支持粒度測量范圍(0.6 nm 至 10 μm)和濃度范圍(0.00001% 至 40%)??梢允褂?小容量為 130 μL 或更大的一次性樣品池進行測量,通過實際測量電滲流來實現高精度的 zeta 電位測量。 此外,通過在0~90°C的寬溫度范圍內進行自動溫度梯度測量,可以進行變性/相變溫度分析。
        詳情介紹:
        特長
        • *新的高靈敏度APD實現了更高的靈敏度和更短的測量時間
        • 通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析
        • 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量
        • 增加了廣泛的分子量測量和分析功能
        • 支持懸浮高濃度樣品的粒徑和 zeta 電位測量
        • 測量電池中的電滲流,并通過繪圖分析提供高度準確的 zeta 電位測量結果。
        • 支持高鹽濃度溶液的zeta電位測量
        • 支持小面積樣品的平板zeta電位測量

         

        用途

        非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、醫藥、醫藥等領域中,不僅涉及微粒子,而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎研究和應用研究。

        • 新型功能材料領域
          燃料電池相關(碳納米管、富勒烯、功能薄膜、催化劑、納米金屬)生物納米
          相關(納米膠囊、樹枝狀大分子、DDS、生物納米顆粒)、納米氣泡等。
           
        • 陶瓷/著色材料 工業領域
          陶瓷(二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等)
          表面改性/分散/無機溶膠的聚集控制
          顏料(炭黑/有機顏料)的分散/聚集控制
          漿料樣品
          濾色器
          捕獲漂浮的選定礦物 研究關于集料吸附
           
        • 半導體領域
          硅片表面異物附著機理闡明
          研磨劑和添加劑與硅片表面的相互作用研究
           CMP漿料
           
        • 高分子/化工領域
          乳液(油漆/粘合劑)的分散/聚集控制,乳膠的表面改性(醫藥/工業用)
          聚電解質(聚苯乙烯磺酸鹽,聚羧酸等)的功能研究,功能性納米顆粒
          紙/紙漿造紙工藝控制和紙漿添加劑研究
           
        • 醫藥/食品工業領域 
          乳液(食品/香料/醫藥/化妝品)分散/聚集控制,蛋白質功能
          脂質體/囊泡分散/聚集控制,表面活性劑(膠束)功能
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