產品名稱：塔瑪薩崎Otsuka大塚澤塔電位儀

• *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間
• 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析
• 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量
• 增加了廣泛的分子量測量和分析功能
• 支持懸浮高濃度樣品的顆粒直徑和Zeta電位測量
• 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結果，用于測量單元中的電滲透流
• 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量
• 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量

它非常適合在界面化學、無機材料、半導體、聚合物、生物、制藥和醫學領域進行基礎和應用研究，不僅處理細顆粒，還處理薄膜和平板樣品的表面科學。

• 新型功能材料
  燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
  生物納米相關（納米膠囊、樹突、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡等
   
• 陶瓷和著色材料工業
  陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等）
  無機溶膠的表面改性、分散和聚合控制
  顏料（炭黑和有機顏料）的分散和聚合控制
  漿料樣品
  彩色濾光片
  懸浮礦物的收集材料吸附研究
   
• 半導體領域
  硅晶片表面異物附著的機理 闡明
  研磨劑、添加劑與晶圓表面相互作用的研究
  CMP漿料
   
• 聚合物和化學工業
  乳液（涂料和粘合劑）的分散和聚合控制、乳膠表面改性（醫藥和工業）
  聚合物電解質（聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等）的功能研究、功能性納米顆粒
  造紙和紙漿造紙工藝控制以及紙漿添加劑研究
   
• 制藥和食品工業
  乳液（食品、香料、醫療和化妝品）的分散和聚集控制、蛋白質功能
  

• 脂質體和囊泡的分散和聚合控制、表面活性劑（云蘇）的功能

測量原理	顆粒大小		動態光散射法（光子相關法）
	澤塔電位		電泳光散射法（激光多普勒法）
	分子量		靜態光散射方法
光學	顆粒大小		均入式光學系統
	澤塔電位		異質光學
	分子量		均入式光學系統
光源	大功率半導體激光器
探測器	高靈敏度 APD
單元格	用于 Zeta 電位：標準電池、微量放電電池或厚電池
	粒徑/分子量：方形細胞
溫度	0 至 90°C（帶梯度功能）
電源	100V ± 10% 250VA
尺寸 （WDH）	380（W)×600（D)×210（H)
重量	22 kg

測量范圍

*1（Latex112nm：0.00001 至 10%，?；撬幔簙40%）