塔瑪薩崎Otsuka大塚分析儀器|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產品名稱：塔瑪薩崎Otsuka大塚分析儀器
產品型號：多樣品納米顆粒直徑測量系統納米SAQLA（帶自動采樣器AS50）
產品廠商：OTSUKA大塚電子
產品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

特點 ■納米SAQLA的特點一臺儀器可輕松連續測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現多個樣本的連續測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。支持從稀釋到厚系統標準測量時間 1 分鐘的高速測量自動調整從厚系統到稀薄樣品的*佳測量位置，實現約 1 分鐘的高速測量簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可開始測量），無需復雜的操作內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔，每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。配備溫度梯度功能，可輕松設置溫度 ■AS50的特點連續測量多達 50 個樣本即使在測量過程中也能添加樣品樣品集簡單方便（*多可批量更換 50 個樣品）有機溶劑兼容（玻璃一次性電池）樣品容量 *小 0.4ml

詳情介紹：

規格

手勢

類型表達式	多樣品納米顆粒直徑測量系統
測量原理	動態光散射法（光子相關法）
光源	大功率半導體激光器（660nm，70mW） ^*1
探測器	高靈敏度 APD
連續測量	*多 5 個樣本
測量范圍	0.6nm ～ 10μm
濃度范圍	0.00001 ～ 40% ^*2
溫度范圍	0 至 90°C（帶溫度梯度功能） ^*3
樣品容量	角單元：1.2mL~，微量單元：20μL~
大小	W240 X D480 X H375 mm
功耗	AC 100～240V 50/60Hz、250VA
重量	約 18 千克
軟件	平均顆粒直徑分析（庫姆蘭特方法）
	粒子大小分布分析（馬夸德特/繼續/NNLS/統一方法）
	粒度分布重疊寫入
	反向相關函數和殘差圖
	顆粒大小監測器
	顆粒尺寸顯示范圍（0.1 至 10）⁶ nm）
	分子量計算器
	21 CFR 第 11 部分 ^*4
選項	微量細胞（從20μL起），熒光切割濾光片

*1 本設備是激光**標準（JIS C6802）第 1 類產品
*2 PS Latex 顆粒：0.00001 至 10%，?；撬幔簙40%
*3 使用卡拉斯塞爾與貼片細胞支架。
使用 5 聯電池座或分配器時為 15 至 40°C
*4 選項

類型表達式	自動采樣器 AS50
測量范圍	3nm ～ 10μm
濃度范圍	0.001 ～ 40%
溫度范圍	15 ～ 40℃
連續測量	*多 50 個樣本
樣品容量	AS 電池 0.4mL ~
大小	W240 X D480 X H275 mm （nanoSAQLA+AS50：W480 X D480 X H375 mm）
重量	12 kg （nanoSAQLA+AS50：30kg）

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