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        產品詳情
        • 產品名稱:塔瑪薩崎Otsuka大塚測量儀器

        • 產品型號:單粒子熒光診斷系統
        • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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        • 折扣價格:0
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        簡單介紹:
        基于與 NIMS 共同開發的單粒子診斷方法進行測量。* ? 與國家材料科學研究所 研究員高崎正彥和武田高富史合作
        詳情介紹:
        特點
        • 高靈敏度系統,可測量熒光粉單顆粒的熒光特性。
        • 從單粒子提取到測量的系統化
        • 可測量 10μm 顆粒
        • 可測量從室溫到 600°C 的溫度依賴性

         

        測量項目
        • 量子效率(量子產量)
        • 發射光譜
        • 激發光譜
        • 溫度特性

         

        單粒子診斷測量流程

        合成熒光體后,激發光照射   1 粒子采集   測量熒光粉的特性


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