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        產品詳情
        • 產品名稱:蘇州代理Otsuka大塚澤塔電位測量系統 ELSZ-2000Z

        • 產品型號:
        • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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        簡單介紹:
        特點 *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量 支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測量 通過測量和繪圖分析,提供高精度的 Zeta 電位測量結果,用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
        詳情介紹:
        用途

        它非常適合在界面化學、無機材料、半導體、聚合物、生物、制藥和醫學領域進行基礎和應用研究,不僅處理細顆粒,還處理薄膜和平板樣品的表面科學。

        • 新型功能材料
          燃料電池相關(碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬)
          生物納米相關(納米膠囊、樹突、DDS、生物納米顆粒)、納米氣泡等

           
        • 陶瓷和著色材料工業
          陶瓷(二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等)
          無機溶膠的表面改性、分散和聚合控制
          顏料(炭黑和有機顏料)的分散和聚合控制
          漿料樣品
          彩色濾光片
          懸浮礦物的收集材料吸附研究

           
        • 半導體領域
          硅晶片表面異物附著的機理 闡明
          研磨劑、添加劑與晶圓表面相互作用的研究
          CMP漿料

           
        • 聚合物和化學工業
          乳液(涂料和粘合劑)的分散和聚合控制、乳膠表面改性(醫藥和工業)
          聚合物電解質(聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等)的功能研究、功能性納米顆粒
          造紙和紙漿造紙工藝控制以及紙漿添加劑研究

           
        • 制藥和食品工業
          乳液(食品、香料、醫療和化妝品)的分散和聚集控制、蛋白質功能


        • 脂質體和囊泡的分散和聚合控制、表面活性劑(云蘇)的功能
        • 規格

          手勢

          測量原理 電泳光散射法(激光多普勒法)
          光學 異質光學
          光源 大功率半導體激光器
          探測器 高靈敏度 APD
          單元格 標準單元、微量分配單元或濃縮單元
          溫度 0 至 90°C(帶梯度功能)
          電源 100V ± 10% 250VA
          尺寸 (WDH) 380(W)×600(D)×210(H)
          重量 22 kg

           

          測量項目
          澤塔電位 -200 ~ +200 mV
          電流動性 -2×10 -5 ~ 2×10 -5 cm2/V.s

          測量范圍

          測量溫度范圍 0 ~ 90℃
          測量濃度范圍 澤塔電位:0.001%~40%

          *1(Latex112nm:0.00001 至 10%,?;撬幔簙40%)

           
          關于標準單元格
          標準單元單元,用于 Zeta 電位

          與稀釋樣品和高鹽濃度樣品對應的電池單元。
          可處理 pH 緊身器和極性溶劑。
          通過減小細胞橫截面面積和增加電極面積,可以測量1000mM NaCl水溶液中顆粒的Zeta電位,更不用說鹽水了。


          標準單元

          [ 使用Zeta電位用標準單元單元的測量示例請點擊此處 ]

           

          用于澤塔電位的微量分配器單元
          ※為“微量分配單元單元”或“厚系統單元單元”的選擇式

          標準可選擇用于 Zeta 電位的微量分配器。
          業界開創??! Zeta 電位的微量分配器,可測量電滲透流。
          ?可測量微量(130μL?)。
          ?可測量鹽濃度高達100mM的Zeta電位。


          微量分配器單元



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