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        產品詳情
        • 產品名稱:Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備

        • 產品型號:
        • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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        簡單介紹:
        Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備 它是一種延遲測量設備,適用于所有薄膜,包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態可以通過“無剝離、無損”進行測量。 此外,它還配備了簡單的軟件和校正功能,通過重新放置樣品來糾正偏差,從而輕松實現高精度測量。
        詳情介紹:


        江蘇地區代理Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備RETS-100nx

        江蘇地區代理Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備RETS-100nx

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        江蘇地區代理Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備RETS-100nx

        江蘇地區代理Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備RETS-100nx

        規格

        手勢
        類型表達式 延遲測量設備 RETS-100nx
        測量項目(薄膜、光學材料) 延遲(波長色散)、慢軸、Rth*1,三維折射率*1
        測量項目(偏振板) 吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透射率等
        測量項目(液晶電池) 細胞間隙,預傾角*1、扭曲角、取向角等
        延遲測量范圍  0 ~ 60,000nm
        延遲可重復性 3 μ≦0.08nm(晶體波長板約 600nm)
        細胞間隙測量范圍 0 到 600μm(μn = 0.1)
        細胞間隙可重復性 3π≦0.005μm(單元間隙約3μm、Δn=0.1時)
        軸檢測可重復性 3° ≦0.08° (晶體波長板約 600nm)
        測量波長范圍 400 至 800nm(可選)
        探測器 多通道光譜儀
        測量直徑 φ2mm (標準規格)
         光源 100W 鹵素燈
        數據處理部 個人計算機、顯示器
        舞臺尺寸:標準 100mm × 100mm(固定級)
        選項 超高延遲測量
        、多層測量
        、軸角度校正功能
        、自動 XY 級
        、自動傾斜旋轉階段

        *1 需要自動傾斜旋轉階段(可選)

        特點
        高精度測量,因為它是專有的光譜儀

        ■ 高精度


        通過多波長測量實現

        在短波長下,可以確定近似值的結果,如難以測量的 lamb標準 / 4,lamb標準 / 2。 結果不受薄膜厚度干擾波形的影響。
        高精度 <高精度原因>
        使用獨特的高性能多通道光譜儀
        , 獲得大量的透射率信息 , 可實現
        高精度測量 ( 獲得的透射率信息約為 500 波長,是其他公司產品的 50 倍)

         


        ■ 范圍廣(延遲范圍:0~60000nm)

        ■ 范圍廣的測量范圍 同強度也能根據其他波長數據進行運算

         


        ■ 可知延遲波長色散形狀

        ■ 可測量可知延遲波長色散形狀的逆色散樣品

        超高延遲測量 - 超雙折射薄膜可高速、高精度地測量 -

        ■ 高延遲
        ■ 高延遲測量 即使這么高的延遲,也可以用自己的算法進行無參數分析。
        支持超高 Re.60000nm

         

        多層測量 - 無需剝離即可測量各種薄膜的層壓狀態,

        多層測量 不需要剝離,可以直接測量

         

        軸角度校正功能 - 即使樣品安裝偏移,也能輕松測量可重復性 -

        ■ 將樣品重新放置10次,比較結果無角度校正
        [ 樣品: 相位差膜R85 ]

        將樣本重新放置 10 次,結果無角度校正,無比較,無校正:重新放置偏差:0.13,校正:重新校正變化:0.013 或更少

         

        簡單軟件 - 顯著縮短測量和處理時間。 可操作性大幅UP-

        簡單的軟件,你可以完成所有操作在一個屏幕上!



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