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產品詳情
簡單介紹：
Otsuka大塚VR測試儀RE-200 偏光片RTH AR測試儀 大塚電子RETS
詳情介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業產品，聯系人：張小姐
聯系電話：15902189399
產品信息
特點
- 低（殘余）延遲測量從0nm
-
在光軸檢測的同時，可以高速測量延遲（Re.）（世界上
*快的處理速度在0.1秒以下） - 由于沒有驅動單元，因此可實現高重復性
- 設置的測量項目更少，測量更簡單
- 測量波長為550nm，以及各種波長
-
Rth 測量，全
向角度測量（需要可選的自動旋轉傾斜夾具） -
與拉伸測試儀結合使用時，可以在
薄膜的偏振特性的同時進行光彈性評估（該系統是定制的）。 ）
測量項目
- 延遲（ρ[deg.]， Re[nm]）
- 主軸方位角（θ[deg.]）
- 橢圓比（ε）、方位角（γ）
- 三維折射率（NxNyNz）
測量對象
- 緩速膜、偏振膜、橢圓膜、視角改善膜、各種功能膜
- 透明、各向異性（玻璃應變、應變等）
什么是 RE-200？
RE-200 將由光子晶體元件（偏振元件）和 CCD 攝像機組成的偏振測量模塊與透射偏振光學系統相結合，可實現快速、高精度的相位差（延遲）和主軸方位角測量。 由于偏振強度模式是在 CCD 攝像機的一次拍攝中獲得的，因此沒有偏振器旋轉機制，整個系統配置緊湊，即使在長時間使用時也能保持穩定的性能。
擬合傅立葉變換以計算橢圓率ε方位角γ。
手勢
| 類型表達式 | RE series |
| 樣本大小 |
*小 10×10mm 至*大 100×100mm |
| 測量波長 | 550nm （標準規格）*1 |
| 延遲測量范圍 | 約0nm~約1μm |
| 軸檢測重復精度 | 0.05°（at 3σ） ※2 |
| 探測器 | 偏振測量模塊 |
| 測量點直徑 | 2.2mm×2.2mm |
| 光源 | 100W 鹵素燈或 LED 光源 |
| 主體和重量 | 300 （W） × 560 （H） ×430 （D） 毫米，約 20 kg |
選項
Rth 測量和全向角度測量是可能的 * 夾具主體（旋轉：180°，傾斜：±50°）
自動旋轉傾斜夾具
測量示例
視角改善膜A
視角改善膜B
浙江地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200
上海地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200
杭州地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200
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