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        產品詳情
        • 產品名稱: 代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀

        • 產品型號:
        • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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        • 產品文檔:
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        簡單介紹:
        代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀 橢圓偏振光測量儀 多功能橢偏儀 橢偏儀系統
        詳情介紹:

        塔瑪薩崎電子(蘇州)有限公司代理、直營各日本品牌工業產品,聯系人:張小姐

        聯系電話:15902189399  


        產品信息

        特點
        • 可在紫外可見(300~800nm)波長范圍內測量橢圓參數
        • 納米級多層薄膜的厚度分析
        • 使用 400ch 或更多多通道光譜快速測量橢圓光譜
        • 通過可變反射角度測量支持薄膜的詳細分析
        • 通過數據庫化光學常數和添加配方注冊功能,提高可操作性

         

        測量項目
        • 橢圓參數(tan= 、cosΔ)測量
        • 光學常數 ( n : 折射率 , k : 消光系數 ) 分析
        • 厚度分析

         

        測量對象
        • 半導體晶圓
          柵極氧化薄膜、氮化膜
          SiO
          2,SixOy,SiN,SiON,SiNx,Al2O3,SiNxOy,poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN
          電阻的光學常數(波長色散)
        • 化合物半導體
          xGa(1-x)As 多層膜,非晶硅
        • FPD
          對準膜
        • 各種新材料
          DLC(Diamond Like Carbon)、超導薄膜、磁頭薄膜
        • 光學薄膜
          TiO
          2,SiO2,防反射膜
        • 光刻領域
          g 線 (436nm)、h 線 (405nm) 、i 線 (365nm) 等各波長的 n,k 評價

        里·哈拉

        將包含 s 波和 p 波的線性偏振光入射到樣品中,以測量反射光的橢圓偏振光。 s 波和 p 波的相位和振幅獨立變化,以獲得 p 波和 s 波反射率的比值和相位差 Δ,這是兩種偏振光的轉換參數,具體取決于樣品。

        光譜橢圓計原理
         

        tan_ 和 cons_稱為橢圓參數,光譜橢圓測量測量這兩個參數的波長相關光譜。

        手勢
        類型表達式 FE-5000S FE-5000
        樣本大小 高達 100x100mm *大 200x200mm
        測量方法 旋轉分析儀*1
        測量膜厚范圍(nd) 0.1nm~1μm
        入射(反射)角度范圍 45~90° 45~90°
        入射(反射)角度驅動方式 自動正弦桿驅動系統
        入射點直徑*2 φ2.0 φ1.2sup*3
        tanψ測量精度 ±0.01 或更少
        cosΔ 測量精度 ±0.01 或更少
        薄膜厚度的重復再現性 0.01% 或更少*4
        波長范圍*5 300~800nm 300~800nm
        測量光源 高穩定性 Xenon 燈*6
        舞臺驅動系統 手動 手動/自動
        加載器支持 不可以
        尺寸、重量 650(W)×400(D)×593(H)mm
        50kg
        1300(W)×890(D)×1750(H)mm
        350kg
        *7

        *1 偏振器可驅動,緩速板可拆卸,對不敏感帶有效。
        *2 因短軸和角度而異。
        *3 微點對應(可選)
        *4 使用 VLSI 標準 SiO2 膜 (100nm) 時的值。
        *5 選擇自動階段時的值。

         江蘇地區代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀


         上海地區代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀 

        浙江地區代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀


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