OTSUKA大塚顯微光譜儀OPTM|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產品名稱：OTSUKA大塚顯微光譜儀OPTM
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚顯微光譜儀OPTM

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產品信息

從測量到結果

特征

薄膜厚度測量所需的功能集成在頭部部分
通過顯微光譜法進行高精度**反射率測量（多層膜厚、光學常數）
每點 1 秒內高速測量
在顯微鏡下實現寬測量波長范圍的光學系統（紫外~近紅外）
帶區域傳感器的**機制
簡單的分析向導，即使初次使用也能進行光學常數分析
宏功能可自定義測量序列
可以分析復雜的光學常數（多點分析方法）
兼容300mm載物臺
支持各種自定義

可以根據樣品的形狀和部分輕松定制測量序列

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產品名稱：OTSUKA大塚 顯微光譜儀OPTM

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