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產品詳情
簡單介紹：
小坂研究所（KOSAKA）SE500A-18/D是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用
詳情介紹：
江蘇KOSAKA小坂臺階儀表面粗度測定儀SE500A-18/D
SE500A 系列
它可強力執行表面粗糙度、波紋度測量和階梯測量。 它支持多種參數，可以同時分析多個標準。 它是一種精密、緊湊和高性能的測量機，具有高度可擴展性，適用于所有應用。
- **的行駛距離、直線度精度
- 觸摸屏和開關一起操作
- 記錄紙有效寬度寬，有效記錄形狀放大
- 組合適用于所有應用。
| 測量參數 | JIS（2001/94/82）、DIN、ISO、ASME |
|---|---|
| 測量范圍/分辨率 | Z軸：800微米/0.08納米 |
| *大測量長度 | X軸：55毫米 |
| 測量放大倍率 | 長度： 50~200，000， 自動寬度： 1~1，000， 自動 |
| 探測器 | PU-A4，可更換手寫筆，標準手寫筆：R2μm 60° |
| 組合 | 從便攜式到固定式的7種型號 |
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