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產品詳情
簡單介紹：
MITAKA三鷹光器微透鏡陣列（MLA）
形狀光學表征設備
它配備了NH系列的所有基本形狀測量功能，可以測量透鏡和模具的橫截面形狀，并用專用軟件集體測量曲率和中心坐標。
詳情介紹：
MITAKA三鷹光器長處
通過高精度圖像處理可以評估鏡頭的光學特性
評估項目 ： 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時測量多個微透鏡陣列 （MLA）
使用如下所示的測量光學系統用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像（針孔狹縫圖像），并由CCD相機捕獲圖像。 通過對圖像進行圖像處理來評估鏡頭的光學特性。
測量光學元件
多點微透鏡陣列（MLA）也可以同時測量
矩陣創建軟件
專用矩陣測量軟件可記憶陣列模式，實現平滑的自動測量。
它是MLA研發和質量控制的理想選擇，這些研發和質量控制變得越來越大。
它是MLA研發和質量控制的理想選擇，這些研發和質量控制變得越來越大。
MITAKA三鷹光器諾馬斯基微分干涉觀測
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學元件。
該光學系統可直觀地捕獲普通明場光學系統無法觀察到的數十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現場進行定量粗糙度和階梯測量。
該光學系統可直觀地捕獲普通明場光學系統無法觀察到的數十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現場進行定量粗糙度和階梯測量。
帶有諾馬斯基光學器件的NH-3N
包含諾馬斯基法學院的
NH系列光路圖
NH系列光路圖
測量功能
使用激光探頭測量透鏡形狀測量
?曲率半徑、中心坐標值
、圓度、頂點高度、XY坐標、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
、圓度、頂點高度、XY坐標、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
光學表征通過圖像處理測量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測量（可選）
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測量（可選）
MITAKA三鷹光器規范
運動范圍（X、Y、Z、AF）
100， 100， 100， 10毫米
X-Y 軸刻度分辨率
0.1微米
自動對焦軸刻度分辨率
0.01微米
測量原理
點自動對焦方法 ISO 25178-605
激光
λ = 635nm 輸出，1mW 或更低
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