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產品詳情
簡單介紹:
總代HORIBA崛場 橢圓偏振光譜儀UVISEL PLUS 光譜范圍從FUV到NIR:190-2100nm
UVISEL Plus橢圓偏振光譜儀為先進薄膜、表面和界面表征提供了模塊化和性能的優化組合。
UVISEL Plus作為一款高準確性、高靈敏度、高穩定性的經典橢偏機型,它采用了PEM 相位調制技術,與機械旋轉部件技術相比, 能提供更好的穩定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm。
詳情介紹:
總代HORIBA崛場 橢圓偏振光譜儀UVISEL PLUS 國內各區域供應
產品優勢
- 高精度和高靈敏度
- 模塊化設計
- 寬光譜范圍: 190-2100 nm
- 集數據測量、建模和自動化操作為一體的軟件包
獲得的信息
- 膜層厚度,從1?到50 μm
- 表面和界面粗糙度
- 光學常數 (n,k) ,適用于各向同/異性和漸變層
- 光學特性如:吸收系數α, 光學帶隙Eg
- 材料性能:合金成分、孔隙率、結晶度及形貌等
- 穆勒矩陣
- 退偏
UVISEL 規格
- 光譜范圍:標配190-885nm,可擴展至近紅外2100nm
- 檢測系統:高分辨率光譜儀配合高靈敏探測器
手動配置
- 光斑尺寸:0.05 – 0.1 – 1 mm(針孔)
- 樣品臺:直徑150mm,手動調節高度(20mm)和傾角
- 卡位量角器:手動調節角度,從55°到90°,步徑5°
自動配置
- 光斑尺寸:0.05 - 0.1 - 1 mm或0.08 - 0.12 - 0.25 - 1.2 mm(針孔)
- 自動樣品平臺:200 x 200mm或300 x 300mm,手動調節高度(4mm)和傾角;XYZ樣品臺,theta平臺
- 自動量角器:自動調節角度,從45°到90°,步徑0.01°
集成型量角器
- 手動調節入射角度,從35°到90°,步徑5°
- 樣品臺:直徑150mm,手動調節高度(20mm)
- 自動準直系統(可選)
- 尺寸: 25cm*21cm*35cm



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