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        新聞詳情

        OTSUKA大塚電子VR行業相位差膜RETS-100nx

        日期:2025-06-16 13:12
        瀏覽次數:169
        摘要:OTSUKA大塚電子相位差膜RETS-100nx 是一種延遲測量設備,適用于所有薄膜,包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態可以通過“無剝離、無損”進行測量。 此外,它還配備了簡單的軟件和校正功能,通過重新放置樣品來糾正偏差,從而輕松實現高精度測量。

        OTSUKA大塚電子相位差膜RETS-100nx 是一種延遲測量設備,適用于所有薄膜,包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。

        實現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。

        薄膜的層壓狀態可以通過“無剝離、無損”進行測量。

        此外,它還配備了簡單的軟件和校正功能,通過重新放置樣品來糾正偏差,從而輕松實現高精度測量。



        *適合光學薄膜的偏振特性評估,如延遲(雙折射相位差)的波長色散評估、方向角(光學軸)和粘合角度的自動檢測


        詳細介紹一下RETS-100 和 RETS-100nx

        特點





        探測器采用多通道光譜儀,可在任意波長下進行高精度延遲(雙折射相位差)測量。





        • 通過選擇傾斜和旋轉階段(可選),可以進行視角表征,如三維折射率參數分析。
        • 根據測量對象,可以構建自由樣品階段。
        • 微距離(0.1nm*)可以**測量。




        測量項目

        • 延遲(雙折射相位差)
        • 延遲(雙折射相位差)的波長色散
        • 樣品傾角
        • 方位角和橢圓率
        • 偏振度測量
        • 光譜測量
        • 色度測量
        • 三維折射率參數分析
        • 海茲*
        • 光彈性*

        應用

        • 光學膜相位差膜、橢圓膜、相位差板偏振膜、附加功能偏振膜、偏振板
        • 液晶材料、液晶電池偏振測量偏振光學元件、單元(TN、STN、IPS、VA、OCB)


        光學系











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