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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
詳情介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子MCPD-6800擁有3個波長范圍內的12種探測器陣容，并提出*合適的探測器，以滿足客戶需求和測量應用。
MCPD-6800它配備了通用USB端口和LAN通信，可以支持從遠程位置進行遠程測量，從而擴展了便利性和廣泛的測量應用。
OTSUKA大塚電子MCPD-6800使用512通道或1024ch檢測元件和探測器主體的內部存儲器，可以每5毫秒（MCPD-6800）以高靈敏度和精度測量不斷變化的紫外，可見光和近紅外發射光譜。
OTSUKA大塚電子MCPD-6800薄膜厚度測量系統用途 ◎薄膜、涂膜、保護膜的膜厚 ◎晶圓、玻璃基板、鋁基板上的膜厚
OTSUKA大塚電子MCPD-6800顯微光譜系統應用 ◎ 顯微鏡下微小斑點的測量（反射、透射、吸收） ◎ 薄膜厚度測量
（薄膜、各種基材上的薄膜、保護膜）
多點測量系統
應用 ◎ 減反射膜的反射率測量 ◎ 涂膜的膜厚測量 ◎ 各種基材上的膜
厚測量
| 橫移機兼容系統 | |
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應用 ◎ 減反射膜的膜厚和反射率測量 ◎ 功能性膜 的質量控制 |
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