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通過從前、側、后三個角度進行測量和分析，它提供了更高分辨率的粒度分布。
單角度測量無法分離的樣品可以通過三角度測量和分析分離成多個峰。
靜態光散射法可以計算溶液中的顆粒濃度。
動態光散射可以測量聚合物和蛋白質等軟結構的粘彈性。
新的扁平池單元測量扁平樣品的表面zeta電位。
新開發的高鹽濃度涂層可在高鹽濃度環境（154 mM NaCl溶液）下進行測量，并實現生物相容性材料的評估。
對于濃度范圍為 0.00001% （0.1 ppm） 的稀釋溶液至濃度高達 40% 的濃縮溶液，可以測量粒徑和 zeta 電位。
代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機產業（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風速計、流量計等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機）、NS精密科學（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵） 、SIBATA柴田科學、SAKURAI櫻井
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