OTSUKA大塚電子FE-300F光學測量膜厚計代理|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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產品名稱：OTSUKA大塚電子FE-300F光學測量膜厚計代理
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產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

OTSUKA大塚電子FE-300F光學測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實現了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機器收納在本體部的多功能一體式機箱，實現了穩定的數據獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學常數。

詳情介紹：

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特征

體積小、成本低且易于操作的薄膜厚度測量
可通過選擇光譜儀和光源來選擇測量膜厚度范圍
簡單的狀態設置和測量操作。任何人都可以輕松測量
配備實時監控和模擬功能
測量光斑直徑φ3mm（標準）支持
從薄膜到3nm~35μm厚膜的廣泛測量

測量項目

**反射率測量
薄膜厚度分析（10層）
光學常數分析（n：折射率，k：衰減計數）

測量對象

功能膜、塑料：
透明導電膜（ITO、銀納米線）、阻滯膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、膠粘劑、保護膜、硬涂層、防指紋劑等。
半導體化合物半導體
、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蝕劑、碳化硅、砷化鎵、氮化鎵、鎵、藍寶石等
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等
光學材料
濾光片、增透膜等
FPD
液晶顯示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封膠）等。
其他
硬盤、磁帶、建筑材料等

測量波長范圍	300~800nm
測量膜厚范圍（SiO₂轉換）	3納米~35微米
光斑直徑	φ1.2毫米
樣本量	φ200×5（高）毫米
測量時間	0.1~10s內
權力	交流100V±10% 300VA
尺寸、重量	280（寬）×570（深）×350（高）毫米、24公斤
其他	參考板、配方準備服務

軟件屏幕

代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機產業（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源索尼克（風速計、流量計等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機）、NS精密科學（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵）、SIBATA柴田科學、SAKURAI櫻井

優勢品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時計、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業產品

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